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薄膜・铜箔刚度测试仪 | 581

薄膜・铜箔刚度测试仪 | 581

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Loop Stiffness Tester™ 通过测量环形塌陷时的电阻来评估薄膜材料的刚度。
该仪器最初由我们自行设计开发,用于测量磁带的刚度。

如今,它还用于测量各种材料(如柔性电路板铜箔、假发材料等)的刚度。

 

Dimensions of sample
  • Length: 90 to 180mm
  • Width: 6 to 25.4mm
  • Thickness: 100 to 250μm
Loop length (Effective) 50 to 120mm
Load range
  • 5000mN (×1)
  • 500mN (×10)
  • 50mN (×100)
Compression rate 3.3mm/s
Interface RS-232C
Power supply Single-phase, AC100V, 50/60Hz, 0.3kVA (or specify)
Dimensions W360 × D490 × H310mm
Weight Approx. 25kg

 

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