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TOYOSEIKI GENERAL CATALOGUE
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GENERAL CATALOGUE 51No. 250,260 STROGRAPH OPTIONS MECHANICAL CHARACTERISTICS1 MECHANICAL CHARACTERISTICS GENERAL CATALOGUE 5TENSILE…（VARIOUS MATERIALS）機械的性質11 機械的性質1 機械的性質■非接触型レーザ式伸び追跡装置（DE-S型）（マーキング不要の非接触型伸び測定装置、No.906）この非接触方式では、2つの標線部分に各々レーザ光を照射するだけで測定できます。●仕 様1. 適用試験片：プラスチック、ゴム、GFRP、CFRP、セラミック、金属など2. 設定レーザ間距離：5～50mm3. 分 解 能：大変形10μm、固定光学ユニット1μm4. 伸び測定範囲：引張試験機の有効ストローク内5. 最大引張速度：500mm/min6. 光 源：赤色半導体レーザ7. サンプル色：全色可能●電 源単相、AC100V、50/60Hz、約5A■接触式標線追跡装置（DE-AP型）サンプルの標線間追跡装置は、接触方式を採用し、微小変位から、大変位まで連続で測定ができます。●仕 様1. 追 跡 方 式：接触方式2. 追跡最小スパン：20mm3. 追 跡 精 度：微小範囲 ±3μm破断伸び測定範囲 ±0.2mm4. 有効ストローク：500mm●電 源単相、AC100V、50/60Hz、5A●エアー源エアー圧力0.5MPa●機体寸法・質量 W300×D250×H1300mm■非接触式（光学式）標線追跡装置（DE-A型）サンプルにマーキングされた2点間の上部及び下部マークを2個の追跡カメラで確実に捉え、サンプル色に関係なく引張り開始から破断にいたるまで、マーク像の中心を捉えながら追跡を行う影像分割方式です。●仕 様 1. 追跡方式：CCD画像自動サーボ追跡方式（分解能0.1mm）2. 標線間隔：20、25、50mm3. サンプル色：全色可能4. 追跡範囲：450mm（ダンベル3号）5. マーク用インク：主マーク（シルバー）、マスクマーク（黒）●電 源単相、AC100V、50/60Hz、2A●機体寸法・質量 W250×D250×H1700mm12GENERAL CATALOGUE■接触式標線追跡装置（DE-C型）サンプルのマーキングされた部分に直接クリップすることによって、標線間の伸びを追跡します。●仕 様1. 検出方式：パルス式エンコーダ2. 標線間隔：20～50mm3. 追跡範囲：最大1,000mm（有効ストローク）4. 分解能：0.01mm5. 試験片厚さ：0.01～5.0mm6. 測定レンジ：10、20、50、100、200、500、1,000mmフルスケール（アナログ出力）●電 源単相、AC100V、50/60Hz、約3A●機体寸法・質量W270×D300×H1390mmNo.250, 260ストログラフ用オプションSTROGRAPH OPTION引張り…（各種材料）機械的性質11 機械的性質1 機械的性質■非接触型レーザ式伸び追跡装置（DE-S型）（マーキング不要の非接触型伸び測定装置、No.906）この非接触方式では、2つの標線部分に各々レーザ光を照射するだけで測定できます。●仕 様1. 適用試験片：プラスチック、ゴム、GFRP、CFRP、セラミック、金属など2. 設定レーザ間距離：5～50mm3. 分 解 能：大変形10μm、固定光学ユニット1μm4. 伸び測定範囲：引張試験機の有効ストローク内5. 最大引張速度：500mm/min6. 光 源：赤色半導体レーザ7. サンプル色：全色可能●電 源単相、AC100V、50/60Hz、約5A■接触式標線追跡装置（DE-AP型）サンプルの標線間追跡装置は、接触方式を採用し、微小変位から、大変位まで連続で測定ができます。●仕 様1. 追 跡 方 式：接触方式2. 追跡最小スパン：20mm3. 追 跡 精 度：微小範囲 ±3μm破断伸び測定範囲 ±0.2mm4. 有効ストローク：500mm●電 源単相、AC100V、50/60Hz、5A●エアー源エアー圧力0.5MPa●機体寸法・質量 W300×D250×H1300mm■非接触式（光学式）標線追跡装置（DE-A型）サンプルにマーキングされた2点間の上部及び下部マークを2個の追跡カメラで確実に捉え、サンプル色に関係なく引張り開始から破断にいたるまで、マーク像の中心を捉えながら追跡を行う影像分割方式です。●仕 様 1. 追跡方式：CCD画像自動サーボ追跡方式（分解能0.1mm）2. 標線間隔：20、25、50mm3. サンプル色：全色可能4. 追跡範囲：450mm（ダンベル3号）5. マーク用インク：主マーク（シルバー）、マスクマーク（黒）●電 源単相、AC100V、50/60Hz、2A●機体寸法・質量 W250×D250×H1700mm12GENERAL CATALOGUE■接触式標線追跡装置（DE-C型）サンプルのマーキングされた部分に直接クリップすることによって、標線間の伸びを追跡します。●仕 様1. 検出方式：パルス式エンコーダ2. 標線間隔：20～50mm3. 追跡範囲：最大1,000mm（有効ストローク）4. 分解能：0.01mm5. 試験片厚さ：0.01～5.0mm6. 測定レンジ：10、20、50、100、200、500、1,000mmフルスケール（アナログ出力）●電 源単相、AC100V、50/60Hz、約3A●機体寸法・質量W270×D300×H1390mmNo.250, 260ストログラフ用オプションSTROGRAPH OPTION引張り…（各種材料）機械的性質11 機械的性質1 機械的性質■非接触型レーザ式伸び追跡装置（DE-S型）（マーキング不要の非接触型伸び測定装置、No.906）この非接触方式では、2つの標線部分に各々レーザ光を照射するだけで測定できます。●仕 様1. 適用試験片：プラスチック、ゴム、GFRP、CFRP、セラミック、金属など2. 設定レーザ間距離：5～50mm3. 分 解 能：大変形10μm、固定光学ユニット1μm4. 伸び測定範囲：引張試験機の有効ストローク内5. 最大引張速度：500mm/min6. 光 源：赤色半導体レーザ7. サンプル色：全色可能●電 源単相、AC100V、50/60Hz、約5A■接触式標線追跡装置（DE-AP型）サンプルの標線間追跡装置は、接触方式を採用し、微小変位から、大変位まで連続で測定ができます。●仕 様1. 追 跡 方 式：接触方式2. 追跡最小スパン：20mm3. 追 跡 精 度：微小範囲 ±3μm破断伸び測定範囲 ±0.2mm4. 有効ストローク：500mm●電 源単相、AC100V、50/60Hz、5A●エアー源エアー圧力0.5MPa●機体寸法・質量 W300×D250×H1300mm■非接触式（光学式）標線追跡装置（DE-A型）サンプルにマーキングされた2点間の上部及び下部マークを2個の追跡カメラで確実に捉え、サンプル色に関係なく引張り開始から破断にいたるまで、マーク像の中心を捉えながら追跡を行う影像分割方式です。●仕 様 1. 追跡方式：CCD画像自動サーボ追跡方式（分解能0.1mm）2. 標線間隔：20、25、50mm3. サンプル色：全色可能4. 追跡範囲：450mm（ダンベル3号）5. マーク用インク：主マーク（シルバー）、マスクマーク（黒）●電 源単相、AC100V、50/60Hz、2A●機体寸法・質量 W250×D250×H1700mm12GENERAL CATALOGUE■接触式標線追跡装置（DE-C型）サンプルのマーキングされた部分に直接クリップすることによって、標線間の伸びを追跡します。●仕 様1. 検出方式：パルス式エンコーダ2. 標線間隔：20～50mm3. 追跡範囲：最大1,000mm（有効ストローク）4. 分解能：0.01mm5. 試験片厚さ：0.01～5.0mm6. 測定レンジ：10、20、50、100、200、500、1,000mmフルスケール（アナログ出力）●電 源単相、AC100V、50/60Hz、約3A●機体寸法・質量W270×D300×H1390mmNo.250, 260ストログラフ用オプションSTROGRAPH OPTION引張り…（各種材料）■CONTACT TYPE MARK TRACING DEVICE （DE-C） Traces distance between benchmarks by attaching clips directly to the marked parts of sample. ■CONTACT TYPE MARK TRACING DEVICE （DE-AP） This mark tracing system adopts contact method and can measure continuously from small to large displacement in modulus measurement.■NON-CONTACT TYPE MARK TRACING DEVICE, OPTICAL （DE-A） Image split system in which images of the two marks (upper and lower) marked on the sample are securely seized by means of two tracing cameras and the two marks are traced by seizing their centers from the start of pulling to sample failure without regard to sample's color. ■CONTACT TYPE MARK TRACING DEVICE （DE-D） 機械的性質11 機械的性質1 機械的性質■接触式標線追跡装置（DE-D型）ゴムの標線伸び量を目盛り表示します。●仕様1. 標線間伸び量検出：目視によるスケール読み取り式2. 適用材料・試験片形状：ゴム・ダンベル状試験片2号、3号、4号3. 標線間追尾ストローク：200mm（標線間20mmで約800%）4. ス ケ ー ル 目 盛：標準 標線間20mmとした％目盛：目盛ピッチ10％刻み5. 破断時スケールロック機構：試験片破断時に指針とスケールの位置関係をロック（指針とスケールにより破断時の伸び量を読み取る）6. 標 線 接 触 部：エッジ・ローレット7. 対 応 引 張 試 験 器：ストログラフ Ｖ-1、VEシリーズ、ＶＧシリーズ8. 対 応 チ ャ ッ ク：エアーチャック Ｂ-4、Ｂ-12、Ｂ-13No.250, 260ストログラフ用オプションSTROGRAPH OPTION引張り…（各種材料）■ストログラフ用微小伸び計（D型）（弾性率測定用、No.902）ISOやJIS規格などに定められた硬質プラスチック試験片の引張弾性率を求めるときの2点間のひずみTOYO_2011/12-13 12.10.17 12:23 ページ 13■SPECIFICATIONS1. Detecting system･････････････Pulse type encoder2. Span between marks･･････････20 mm or more3. Tracing range････････････････Max. 1,000 mm (eective stroke)4. Resolution･･･････････････････0.01 mm5. Sample thickness･････････････0.01〜5.0 mm6. Measuring range･･････････････10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000 mm full scale（Analog output）7. Electric source･･･････････････AC 100V, 1-P, approx. 3A, 50/60Hz8. Dimensions･･････････････････W270×D300×H1390 mm ■SPECIFICATIONSAPⅡ type1. Tracing method･･･････････････Contact method2. Min. tracing span･･････････････20 mm3. Tracing precision･･････････････For elastic modulus measuring range, ±3μ m For elongation at rupture measuring range, ±0.2 mm4. Eective stroke･･･････････････500 mm5. Electric source･･･････････････AC 100V, 1-P, 5A, 50/60Hz6. Air source････････････････････Air pressure 0.5 MPa7. Dimensions･･･････････････････W300×D250×H1300 mm ■SPECIFICATIONS1. Tracing method･･･････････････CCD image auto-servo tracing method (resolution 0.1 mm)2. Span between marks･･････････20, 25, 50 mm3. Color of sample･･･････････････Any color4. Tracing range････････････････Approx. 450 mm (Dumbbell No.3)5. Marking ink･･････････････････Main mark (silver), Masking mark (black)6. Electric source･･･････････････AC 100V, 1-P, approx. 2A, 50/60Hz7. Dimensions･･････････････････W250×D250×H1700 mm■SPECIFICATIONS1. Detecting Method : Read Scale by Visual2. Applicable test piece : Rubber Dumbbell shape (No.2, No.3, No.4)3. Tracing range : 200mm (About 800% in 20mm between the marks)4. Scale : % Scale in 20mm between the marks (Standard) Scale pitch: 10% step5. Scale lock mechanism during the test piece break : Lock the position between the pointer and scale at the time of the test piece break(read the elongation at break by the pointer and scale)6. Marks contact portions : Edge, Knurling7. Applicable Machines: STROGRAPH VG, VGS series8. Applicable chucks : type B-4, B-12, B-13 (Pneumatic type)
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